在CT电路板故障测试中，除首先应检查接口电路外，其次应该认真检查缓冲器和缓冲器与接口电路之间的门电路及相接的锁存器电路，这也是常发生故障部位，应预以优先测试。各种触发器、寄存器及选择器类IC器件的在线状态常常和线路中的其它IC器件的状态关联密切，应首先检测其外围相接芯片和电路，当确认外围电路没有问题后，再进行其本身检查。对于游移性或不稳定性故障，多是由于器件性能变差、温度特性不好、器件插脚接触不良所致。对于怀疑性能变差的器件，应用记忆示波器，对其逻辑波形的变化进行细致的观察和比较，波形是否产生毛刺或抖动等，多能发现故障器件。

对于怀疑温度特性不好的芯片，用绝缘物质将其与周围芯片隔离，用微型电吹风分别吹以冷风和热风，观察电路状态变化，多能发现温度不稳芯片。随机性故障一般由随机性原因引起，但这类故障除抗干扰能力差外，多由接触不良引起，这类故障多找不到具体故障点或故障芯片，应根据信号流程、逻辑图具体分析处理。

故障电路板上的接触不良故障，多由于处理器、寄存器等多插脚的IC芯片插脚接触不良造成，尤其是方型插接芯片。取下后用橡皮擦拭芯片插脚，使之光亮清洁，用小毛刷认真清洁插座，重装后多能奏效。对于易发生故障的芯片取下后可换上芯片插座，方便今后芯片的更换或对不稳定性故障芯片的排除试验。一些芯片发生莫名其妙的损坏，其原因多是静电放电。一般芯片抗静电电压值为1000V～2000V。TTL芯片1000V左右，NMOS芯片500V左右，EPROM芯片只有200V左右，人体所带静电电压一般为上万伏，故在电路板维修操作中，要注意使用防静电手环，防止意外芯片损坏。