第一种：环状伪影

1、产生环状伪影的原因：

①探测器损坏：探测器的某一个或某些损坏或探测效率降低；

②积分电路损坏：某个或某些通道的积分电路损坏；

③X线管辐射输出降低：射线量不足导致剂量降低；

④X线管位置或准直器的调整不佳：也会造成剂量的不足；

⑤探测器受潮：导致探测器的性能差异变大；

⑥软件损坏：校正参数表破坏；

⑦电网电压不稳或内阻过大导致剂量不稳，极可能产生环状伪影。

2、检测及分析处理：

①判断X线管辐射能力的降低是产生环状伪影的重要原因之一。此时X线管的辐射性能不稳定，时高时低。因此应当判断环状伪影是否由X线管引起。但是X线管一般来说不会发生突变，这一点是应当注意的；

②判断探测器：某个探测器损坏会引起一个圆圈状的伪影。早期的CT采用的闪烁晶体容易受潮。当探测器受潮后也会引起环状伪影。但是和单个探测器损坏相比它们产生的伪影是不同的。探测器受潮引起的环状伪影不会是单个圆圈；

③判断积分电路：积分电路的损坏可能是单一的也可能是一组。积分电路最容易损坏的是电路板上的滤波电容。但是滤波电容的损坏常常不只是影响一组通道；

④调整问题：X线管和准直器的调整不佳导致球管发出来的X线不能全部穿透人体到达探测器，这种情况下表现的是辐射剂量不足。在检查探测器和积分板没有明显的损坏的情况下，有可能是球管和准直器调整不佳产生的伪影。需要重新进行调整；

⑤检查定位相：通过定位相可以判断通道和探测器的损坏，此时会出现平行于轴向的竖线；

⑥高压不稳会引起剂量脉冲的不稳也会导致环状伪影的产生。应当检查电网电压，特别是在曝光的过程中应当监视电网波动情况；

⑦环状伪影一般机器不会报错。

第二种：条状伪影

1、条状伪影产生的原因：

①同步脉冲短缺：条状伪影往往是缺少同步脉冲引起的；

②滑环接触不良会导致信息的丢失；

③数据传输时发送与接受不可靠引起数据丢失；

④电网电压不稳引起电压脉冲的不稳导致剂量脉冲不稳。

2、检测与分析处理：

①检查AP脉冲网；

②利用软件测试旋转稳定性；

③检查同步信号传送通道及信号状态；

④检查滑环并清理积存的碳粉；

⑤检查数据传送通道；

⑥检查电网电压。

第三种：网格状伪影

1、网格状伪影产生的原因：探测器与积分电路的连接不良。

2、检测与分析处理：

①检查探测器与积分电路的连接状况；

②进行DAS系统的偏置与噪音测试。